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title: "关于问题最多的oe良率 0610 良率怎样算：已知测试环节分为insertion 1234（单面晶圆测试/双面/die/模组）， 每个环节作用不同权责不同不可省"
topic_id: 82255281415842212
created_at: 2026-06-11T08:19:17.004+0800
source: zsxq
type: topic
cssclasses: zsxq-vault
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# 关于问题最多的oe良率 0610 良率怎样算：已知测试环节分为insertion 1234（单面晶圆测试/双面/die/模组）， 每个环节作用不同权责不同不可省

- 序号：459
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## 正文

关于问题最多的oe良率 0610

良率怎样算：已知测试环节分为insertion 1234（单面晶圆测试/双面/die/模组）， 每个环节作用不同权责不同不可省略，且 不可抽检，最终 只用已检测合格的oe与Asic共封装，因此不存在99%良率累计相乘的逻辑。

By Stella

## 总体总结

主题正文
1. 关于问题最多的oe良率 0610
2. 良率怎样算：已知测试环节分为insertion 1234（单面晶圆测试/双面/die/模组）， 每个环节作用不同权责不同不可省略，且 不可抽检，最终 只用已检测合格的oe与Asic共封装，因此不存在99%良率累计相乘的逻辑。
3. By Stella